元器件测试

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	ELC-133A手持式双数显电桥表 ELC-133A	ELC-133A手持式双数显电桥表功能及特点双显示，20，000/1，000计数 0.7%基本精度自动/手动量程测试参数：电阻电感耗散因数,品质因数,θ（θ测量仅限ELC-133A）可选测试频率：ELC-133A--100Hz/120Hz/1KHz/10KHz
	ELC-132A手持式双显示电桥表 ELC-132A	ELC-132A手持式双显示电桥表功能及特点双显示，20，000/1，000计数 0.7%基本精度自动/手动量程测试参数：电阻电感耗散因数,品质因数
	PM 6306RCL测量仪 PM 6306	PM 6306RCL测量仪是最通用的RCL测试仪，可以测试高达1 MHz的任何频率。交流和直流测试电压连续可调，并且PM 6306具有内置的内置的接触检查功能，确保最优的连接。利用这些功能，您就可以测试实际工作中所使用的各种元器件。
	PM 6304 RCL 测量仪 PM 6304	PM 6304 RCL 测量仪如果您需要一台具有远程编程能力的仪器，不妨考虑以下福禄克的PM 6304 RCL测试仪。PM 6304的基本准确度达0.1%，具有3个测试电压电平和204个测试频率。PM 6304C则具有更高的基本准确度，能够以0.05%的准确度测量元器件或设备。正是由于其准确度非常高，所以PM 6304C非常适宜于校准Fluke 5500A高性能多产品校准器的电容输出功能。
	PM 6303A RCL 测量仪 PM 6303A	PM 6303A RCL 测量仪是一款灵敏、操作简单的RCL测试仪，可用作制造厂的质量检验工具，或者在维修实验室用来快速测试各种元器件。PM 6303A操作简单，具有0.25%的基本准确度，非常适宜于课堂教学或培训等环境。
	HIOKI 3522-50 LCR测试仪 HIOKI 3522-50	HIOKI 3522-50 LCR测试仪：低价及更好的功用和性能 DC, 1 mHz～100 kHz更宽范围的测量频率 5ms高速测量的LCR计宽频量程(DC或1mHz~100kHz) 测量14种参数(高分辨率和高精度) DC电阻测量
	HIOKI 3511-50 LCR测试仪 HIOKI 3511-50	HIOKI 3511-50 LCR测试仪：精巧，非常专业，5ms快速测量LCR 高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 高精度： ± 0.08% 内置比较器输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
	HIOKI 3532-20 LCR测试仪 HIOKI 3532-20	HIOKI 3532-20 LCR测试仪：搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
	HIOKI 3535 LCR测试仪 HIOKI 3535	HIOKI 3535 LCR测试仪:高速LCR仪，采样率可高至120MHz 100kHz～120MHz的宽频带高速LCR测试（6ms/采样）拆卸式前置放大器可选择为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能放大器单元(9700-10)是工厂生产线的选择，为订货的时的固定选件。 (3535与本机不相调的情况下，需要校正)不能单独使用, 测量时需要选择前置放大器单元和测试冶具或探头。
	E4980A 精密LCR表 E4980A	E4980A 精密LCR表可提供最佳的精确度和速度，并且具有多种功能，可广泛应用于各种元件测量。无论是低阻抗范围还是高阻抗范围，E4980A均能提供极快的测量速度和出色的测量性能，是元件和材料的常规研发测试及制造过程测试的理想工具。LAN、USB和GPIB PC连通性能够提高设计和测试的生产率。
	4287A RF LCR 表 4287A	Agilent 4287A RF LCR 表提供从1MHz至3GHz的精确、可靠和快速测量，以改进生产线中电子元件测试的质量和吞吐率。Agilent 4287A使用的不是反射测量技术，而是直接电流、电压测量技术，能在宽阻抗范围实现精确的测量。
	4285A 精密LCR表 4285A	4285A 精密LCR表是用于进行元件和材料测量的精密、可靠、高速的解决方案。针对要求苛刻的射频元件测试，4285A 提供了从5 kHz至30 MHz更高的测试频率范围。无论是研发、制造、质量保证或输入信号检查，4285A都能满足您对LCR表的所有测试和测量要求。
	4263B LCR表 4263B	4263B LCR表是安捷伦科技公司物超所值的低端LCR表，专门用于对生产线元件进行评估，以及对台式应用进行基本阻抗测试。除了在测试频率为100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz和100 kHz (20 kHz，使用选件002)时可进行基本的阻抗测量外，4263B还可以利用选件001方便地进行变压器测量。
	LCR-821高精密LCR测试仪 LCR-821	LCR-821高精密LCR测试仪：．测试频率：12Hz ~ 200kHz, Continuously Variable Frequencies．0.1% 高量测准确度． 100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q, Z/θ, L/R 测试模式．绝对值, 差异值(Δ) 差异百分比显示．240 x 128 大型 LCD 显示幕．测试条件及测试结果同时显示在荧幕上
	LCR-829 高精密LCR测试仪 LCR-829	LCR-829 高精密LCR测试仪：．测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点． 0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)． 0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829) ．100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式．绝对值、差异值(△ )、差异百分比显示．240 x 128 大型 LCD 显示
	LCR-819高精密LCR测试仪 LCR-819	LCR-819高精密LCR测试仪：．测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点． 0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)． 0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829) ．100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式．绝对值、差异值(△ )、差异百分比显示．240 x 128 大型 LCD 显示幕
	LCR-827 高精密LCR测试仪 LCR-827	LCR-827 高精密LCR测试仪：．测试频率：12Hz ~ 10kHz, 489 点． 0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)． 0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829) ．100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式．绝对值、差异值(△ )、差异百分比显示．240 x 128 大型 LCD 显示幕
	LCR-817高精密LCR测试仪 LCR-817	LCR-817高精密LCR测试仪：．测试频率：12Hz ~ 10kHz, 489 点． 0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)． 0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829) ．100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式．绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示．240 x 128 大型 LCD 显示幕
	LCR-826 高精密LCR测试仪 LCR-826	LCR-826 高精密LCR测试仪：测试频率：100Hz ~ 2kHz, 245 点． 0.05% 高量测准确度． 0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829) ．100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式．绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示．240 x 128 大型 LCD 显示幕
	LCR-816 高精密LCR测试仪 LCR-816	LCR-816 高精密LCR测试仪：测试频率：100Hz ~ 2kHz, 245 点 0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)． 0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829) ．100 组设定条件记忆储存、呼出功能．R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式．绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示．240 x 128 大型 LCD 显示幕．